資源
J-GLOBAL ID:201110049389991627   研究資源コード:5000004346 更新日:2006年01月24日

三次元表面形状測定装置/大気、雰囲気中STM及びAFM、電気化学水溶液中STM及びAFM

Nanoscopic microscope Scanning tunneling microscope, atomic force microscope in atmosphere, inert gas or electrochemical solution.
保有機関:
担当者: 草開 清志
資源分類: 実験機器、施設等
研究分野 (4件): 分析化学 ,  薄膜・表面界面物性 ,  金属物性 ,  無機材料・物性
概要:
トンネル電流及び原子間力を用いて、材料表面の原始的オーダーまでの
凹凸を定量的に測定する装置です。
種々なガス、腐食性の強い液体中で反応中の材料表面の変化を同時追跡
できる特徴があります。
利用手続きと方法:
利用手続きの詳細は、担当者まで問い合わせること
利用者の資格は、本学との共同研究者

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