資源
J-GLOBAL ID:201110051423156494   研究資源コード:5000003838 更新日:2005年11月01日

走査電子顕微鏡付高温疲労試験機

High-tempeature Fatigue Testing Machine with Scanning Microscope
保有機関:
担当者: 出井 裕
資源分類: 実験機器、施設等
研究分野 (1件): 機械材料・材料力学
概要:
走査電子顕微鏡付高温疲労試験機 主要目的:試験温度が室温から
800°Cの範囲で、疲労試験を行いながら材料中に発生した疲労き裂の
進展が観察できる装置
利用手続きと方法:
・利用手続き:担当者に問い合わせの上、予約すること
・利用料金:1時間当り2000円 ・利用者の資格 本学教員または本
学教員との共同研究者 ・利用上の制約 特になし

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