資源
J-GLOBAL ID:201110061978325106   研究資源コード:5000003608 更新日:2005年11月12日

走査型電子顕微鏡

Scanning Electron Microscope
保有機関:
担当者: 土居功年
資源分類: 実験機器、施設等
研究分野 (2件): 電子・電気材料工学 ,  電子デバイス・電子機器
概要:
走査型電子顕微鏡
主要目的:各種デバイス・サンプルの表面観察
利用環境と条件:
研究業務の遂行に支障のないこと
利用手続きと方法:
・利用手続き 詳細は担当者まで、問い合わせること
・利用料金 無料
・利用者の資格 本学との共同研究者
・利用上の制約 特になし

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