資源
J-GLOBAL ID:201110077530124642   研究資源コード:5000004336 更新日:2006年01月24日

X線光電子分光析装置

X-ray photoelectron spectroscope
保有機関:
担当者: 龍山 智栄
資源分類: その他
研究分野 (3件): 応用物性・結晶工学 ,  薄膜・表面界面物性 ,  電子・電気材料工学
概要:
X線光電子分光分析装置
主要目的:物質の表面を構成する元素を同定し、さらにその組成や
結合状態を検出するための装置
利用環境と条件:
超高真空中でガスが発生しないこと。導電性があり表面に汚れがないこと。
利用手続きと方法:
詳細は、担当者まで問い合わせること。

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