資源
J-GLOBAL ID:201110078499688814   研究資源コード:1000002197 更新日:2008年03月07日

X線分析装置付電界放射型走査電子顕微鏡

Field-emission type Scanning electron microscope equiped with X-ray micro-analyzer
保有機関:
担当者: 江﨑 尚和
資源分類: 実験機器、施設等
研究分野 (1件): 金属物性
概要:
X線分析装置付電界放射型走査電子顕微鏡 主要目的:各種材料の
超微細組織観察および成分分析分解能10nm 分析可能元素B~
利用環境と条件:
教育・研究業務の遂行に支障のないこと
利用手続きと方法:
・利用手続き 詳細は,担当者まで問い合わせること
・利用者の資格 本学との共同研究者

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