資源
J-GLOBAL ID:201110083596205104   研究資源コード:5000001836 更新日:2005年02月09日

走査型電子顕微鏡

scanning microscope
保有機関:
担当者: 土田 豊
資源分類: 実験機器、施設等
研究分野 (1件): 機械材料・材料力学
概要:
構造材料,機能材料,電気・電子材料等の微細組織観察用および組成
分析用装置
利用環境と条件:
学内の研究に支障のないこと

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