資源
J-GLOBAL ID:201110088947228345   研究資源コード:1000002156 更新日:2003年12月15日

AFM(原子間力顕微鏡)

Atomic Force Microscopy.
保有機関:
担当者: 高橋 三男 平田 房雄
資源分類: 実験機器、施設等
研究分野 (2件): 科学教育 ,  薄膜・表面界面物性
概要:
AFM
主要目的:表面分析
研究領域: 酸素センサー
利用環境と条件:
研究業務の遂行に支障がないこと
利用手続きと方法:
利用手続き 事務担当に問い合わせる必要がある
Tel(0426)68-5107・5935
fax(0426)68-5090
E-mail scenter@tokyo-ct.ac.jp

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