資源
J-GLOBAL ID:201110092632542782   研究資源コード:5000003840 更新日:2005年12月15日

先端材料科学センター

Advanced Materials Science Center
保有機関:
担当者: 先端材料科学センター
資源分類: 実験機器、施設等
研究分野 (4件): 物性II ,  無機工業材料 ,  応用物性・結晶工学 ,  薄膜・表面界面物性
概要:
(1)電界放射型透過電子顕微鏡(FE-TEM)
(2)X線マイクロアナライザー(EPMA)
(3)X線光電子分光装置(ESCA)
(4)集束イオンビーム加工装置(FIB)
(5)振動試料型磁力計(VSM)
(6)SPM (AFM, MFM, STM)
(7)電界放射型走査電子顕微鏡(FE-SEM)
(8)走査電子顕微鏡付高温疲労試験機(SEMサーボパルサ)
利用環境と条件:
1.協力研究 2.一般研究 3.助成研究 4.特別研究 5.招へい研究 6.プロジェクト研究 7.寄付研究
利用手続きと方法:
上記機器による分析を伴う材料研究について、広く共同研究等の相談
に応じるので、詳細は担当者までご連絡下さい。

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