文献
J-GLOBAL ID:201202182016171237
整理番号:12A1355890
STM・STSによるGaAs(001)面及び超薄膜Si/GaAs(001)表面のナノスケール評価
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{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=12A1355890&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=Y0055A") }}
著者 (3件):
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資料名:
巻:
61st
号:
3
ページ:
1176
発行年:
2000年09月03日
JST資料番号:
Y0055A
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)
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