文献

J-GLOBAL ID：201202200677343415   整理番号：12A1254065

荷電粒子のエネルギー損失分布のパラメタリゼーションとケイ素検出器への応用

A parametrization of the energy loss distributions of charged particles and its applications for silicon detectors

著者 (1件)： SIKLER Ferenc (Wigner RCP Inst. for Particle and Nuclear Physics, Budapest, HUN)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment)
巻： 691  ページ： 16-29  発行年： 2012年11月01日 
JST資料番号： D0208B  ISSN： 0168-9002  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *荷電粒子 ,  *エネルギー損失 ,  パラメタリゼーション ,  *Si半導体検出器 ,  確率密度 ,  エネルギー移動 ,  π中間子 ,  K中間子
準シソーラス用語： エネルギー付与

分類 (2件)： チャネリング,ブロッキング,粒子のエネルギー損失  (BK16100J) ,  放射線検出・検出器  (AD08020J)

タイトルに関連する用語 (7件)： 荷電粒子 ,  エネルギー損失 ,  分布 ,  パラメタリゼーション ,  ケイ素 ,  検出器 ,  応用