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J-GLOBAL ID:201202201344891128   整理番号:12A0930490

包析融解中の超伝導薄膜の熱安定性に及ぼす基板効果

Substrate Effect on Thermal Stability of Superconductor Thin Films in the Peritectic Melting
著者 (5件):
資料名:
巻: 116  号: 21  ページ: 6187-6192  発行年: 2012年05月31日 
JST資料番号: W0921A  ISSN: 1520-6106  CODEN: JPCBFK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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単結晶のMgO,LaAlO3(LAO)及びSrTiO3(STO)基板上種々の方法で製膜したYBa2Cu3Oz(Y123またはYBCO)薄膜の融解のその場観察によって系統的研究を行った。顕著なことは,通常使用されるMgO,LAO及びSTO基板上のYBCO薄膜すべてに存在する過熱現象は同一であり,YBCO薄膜の汎用的過熱モードを示唆した。明白なことは,YBCO/LAO薄膜が100Kを超える最高水準の過熱を有して主にLAO基板の格子整合効果に帰すことができることを見いだした。この格子整合効果はY123溶解を遅延するY123による優れた格子フィットとYBa2Cu3O5(Y211)核形成を遅延するY211による劣等格子整合の結果である。更に,Y123薄膜について液体による基板濡れ性及び基板からドーピングする潜在的元素に関連した熱安定性の大きな基板依存性も見いだした。最も重要なことは,過熱挙動の理解がYBCO/基板と同じ性質を有する薄膜/基板構成にとって幅広く役立つことである。
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分類 (2件):
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塩基,金属酸化物  ,  酸化物系超伝導体の物性 
タイトルに関連する用語 (4件):
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