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J-GLOBAL ID:201202203099768180   整理番号:11A1725088

固体表面の細菌付着の研究における原子間力顕微鏡(AFM)の利用

Application of Atomic Force Microscopy (AFM) in Studies of Bacterial Adhesion on Solid Surfaces
著者 (5件):
資料名:
巻: 16  号:ページ: 596-602  発行年: 2010年 
JST資料番号: W1511A  ISSN: 1006-687X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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原子間力顕微鏡観察(AFM)は高分解能を有する微生物の細胞表面の微細形態のイメージング,および微生物細胞と固体表面のナノスケール界面力を直接調べるための,重要な設備になっている。本報告は,AFMの操作原理を手短に紹介した。固体担体およびAFM TIPへの細菌細胞の付着についての進歩と挑戦をレビューした。van der Waals力,静電気,疎水性,立体障害,表面粗さおよび,細菌付着のための多糖類,蛋白質およびリポ多糖類を含む,バクテリア細胞表面重合体のような非特異的相互作用の寄与もまとめた。この分野における未来研究のための展望が示唆された。文献90。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST
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分類 (2件):
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顕微鏡法  ,  細胞生理一般 
タイトルに関連する用語 (5件):
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