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J-GLOBAL ID：201202203316363275   整理番号：12A1206615

モンテカルロシミュレーションによるソフトエラー率の数量的評価手法

A Quantitative Approach of Soft Error Rate Estimation by Monte-Carlo Simulation

著者 (5件)： 矢野憲 (福岡大 工) ,  矢野憲 (科学技術振興機構) ,  林田隆則 (科学技術振興機構) ,  佐藤寿倫 (福岡大 工) ,  佐藤寿倫 (科学技術振興機構)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 112  号： 116(MSS2012 1-29)  ページ： 61-66  発行年： 2012年06月25日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本研究では論理回路のSER(Soft Error Rate)の解析を正確に行う数量的評価手法を提案する。提案する手法は仮想的な粒子照射モデルとCMOSプロセスばらつきを考慮に入れたモンテカルロシミュレーションにより実施する。提案する手法を使用して,ソフトエラー耐性のない通常のラッチ,SRAMとソフトエラー耐性を持ったラッチ,SRAMを使用してSERの改善率について評価を行った。使用したソフトエラー耐性ラッチ,SRAMは単一のノードに対するソフトエラーについて十分な耐性があるが,複数ノードに同時期に発生するソフトエラーについては脆弱であり,その特性を提案するシミュレーション手法により正確に解析した。ソフトエラー耐性のある論理回路においては,Qcrit(致命的チャージ量)によるSERの推定が困難である。何故なら複数ノードに注入されたチャージ量の相互作用によりSEU(Single Event Upset)が発生するか否かが決まるためである。提案するシミュレーション手法を用いて,複数ノードに発生する電流注入をモデル化しSERを正確に解析する手法を提案した。(著者抄録)

シソーラス用語： 誤り率 ,  数値解析 ,  評価 ,  *ソフトエラー ,  耐性 ,  比率 ,  シミュレーション ,  モンテカルロ法 ,  モデリング ,  SEU【シングルイベント】 ,  注入 ,  電流
準シソーラス用語： ソフトエラー率 ,  モデル化 ,  改善率 ,  誤り耐性 ,  電流注入

分類 (2件)： 信頼性  (KB04040H) ,  計算機シミュレーション  (JE11000H)

タイトルに関連する用語 (3件)： モンテカルロシミュレーション ,  ソフトエラー率 ,  評価手法