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J-GLOBAL ID：201202203459459680   整理番号：12A1632428

化学的に酸化されたグラフェンフレークの近赤外光ルミネセンススペクトル像

Near-Infrared Photoluminescence Spectral Imaging of Chemically Oxidized Graphene Flakes

著者 (5件)： UENO Yuko (NTT Microsystem Integration Laboratories, NTT Corp., JPN) ,  TAMECHIKA Emi (NTT Microsystem Integration Laboratories, NTT Corp., JPN) ,  FURUKAWA Kazuaki (NTT Basic Res. Laboratories, NTT Corp., JPN) ,  SUZUKI Satoru (NTT Basic Res. Laboratories, NTT Corp., JPN) ,  HIBINO Hiroki (NTT Basic Res. Laboratories, NTT Corp., JPN)
資料名： e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web)  (e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web))
巻： 10  ページ： 513-517 (J-STAGE)  発行年： 2012年 
JST資料番号： U0016A  ISSN： 1348-0391  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 化学的に修飾された酸化グラフェン(GO)フレークの炭素sp²クラスタの局所構造を測定するために,それらのルミネセンスを近赤外光ルミネセンス(NIR PL)スペクトル像を用いて分析した。GOフレークは800~1400 nmの波長の幅広いPLスペクトルを発光し,それらはsp²クラスタを含み,そのサイズは1.3~2.3nm範囲内にあると理論的に推測されることが分かった。このようなsp²クラスタのサイズ分布は,種々の位置および種々の数のGO相に対するNIR PL像(5μm)の空間分解能で非常に均一であった。透過型電子顕微鏡による解析から,このようなsp²クラスタの存在を確認し,sp²クラスタの推測サイズは0.5~4nmの範囲であった。また,炭素sp²クラスタの局所構造へのGO還元の影響も検討し,NIR PL強度は還元が進展すると減弱し,大きなスペクトルシフトが無いことが分かった。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *酸化物 ,  単分子層 ,  分散【variance】 ,  スピンコーティング ,  石英 ,  基板 ,  還元剤 ,  ヒドラジン ,  *還元 ,  *炭素材 ,  グラファイト ,  ナノ構造 ,  単一層 ,  原子間力顕微鏡 ,  透過型電子顕微鏡 ,  高分解能電子顕微鏡 ,  *光ルミネセンス ,  *近赤外線 ,  Raman散乱 ,  表面構造 ,  モルフォロジー ,  表面粗さ ,  トポグラフィー【形態】 ,  近赤外分光分析 ,  蛍光スペクトル ,  電子顕微鏡観察 ,  画像 ,  *可視化 ,  粒度分布 ,  *クラスタ ,  *分解能 ,  *グラフェン
準シソーラス用語： *SP2クラスタ ,  *画像化 ,  *解像能 ,  近赤外光 ,  *近赤外光光ルミネセンス ,  近赤外線分光法 ,  *酸化グラフェン ,  粗さ【表面】

分類 (4件)： 無機化合物のルミネセンス  (BM08093J) ,  炭素とその化合物  (YB02060D) ,  分光法と分光計一般  (BD07041Q) ,  原子・分子のクラスタ  (BH09030O)

タイトルに関連する用語 (4件)： 化学 ,  酸化 ,  近赤外光 ,  ルミネセンススペクトル