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J-GLOBAL ID：201202204510731435   整理番号：12A0807872

機能ブロードサイド試験における検出不能遷移故障の高速識別

Fast Identification of Undetectable Transition Faults under Functional Broadside Tests

著者 (1件)： POMERANZ Irith (Purdue Univ., IN)
資料名： IEEE Transactions on Computers  (IEEE Transactions on Computers)
巻： 61  号： 6  ページ： 905-910  発行年： 2012年06月 
JST資料番号： C0233A  ISSN： 0018-9340  CODEN： ICTOB4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 検出不能故障を識別するための高速手順は,完全な試験生成よりも計算複雑性が低いプロセスを用いる。試験生成に先行してこれら手順を適用した場合,試験生成間の一定の故障に対するより複雑な解析を回避できる。従来の検出条件を用いた,機能ブロードサイド試験における検出不能遷移故障を識別するための高速手順について記述した。2ステップ手順は論理シミュレーションのみに基づき,どんな型の試験生成も行わない。ステップ1のあるバリエーションでは,状態遷移を特定するために,既知の初期状態から始まる,非特定主要入力ベクトルの論理シミュレーションを用いる。他バリエーションでは,このステップの精度を増す,または収束能力を改良することを意図する。ステップ2では,信号遷移に基づく検出が不能な故障を識別する。提案方式はベンチマーク回路において,低実行時間で多数の検出不能遷移故障を識別した。

シソーラス用語： *回路試験 ,  *論理シミュレーション ,  *電気故障 ,  遷移状態 ,  *故障検出 ,  収束 ,  精度 ,  ベンチマーク ,  走査 ,  順序回路 ,  同期回路 ,  計算量
準シソーラス用語： 機能ブロードサイド試験 ,  遷移故障 ,  ベンチマーク回路 ,  計算複雑性

分類 (2件)： 集積回路一般  (NC03161C) ,  計算機シミュレーション  (JE11000H)

タイトルに関連する用語 (4件)： ブロードサイド ,  試験 ,  遷移故障 ,  識別