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J-GLOBAL ID:201202204822709089   整理番号:12A0311262

ナノテクノロジー ナノ領域における高分解能・高スループットによるSPMイメージング

著者 (1件):
資料名:
号: 294  ページ: 32-33  発行年: 2012年02月10日 
JST資料番号: L0218A  ISSN: 0914-6121  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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ナノ領域における高分解能・高スループットによるSPM(走査型プローブ顕微鏡)イメージングに関連して,近年SPMの開発が加速している。本報では高速原子間力顕微鏡(AFM)による形状データの取得について紹介し解説した。主な内容項目を次に示した。1)はじめに:AFMの原理,AFMに望まれる画像取得の「高速化」,2)高速スキャンの技術:高速スキャンに関する研究状況,3)高速スキャン達成のための技術:プローブ(高速AFM用プローブの仕様,カンチレバーの極小化と変位を検出するレーザスポットサイズの適正化),Zスキャナ(測定速度についてはZ方向がXY方向に比べ3ケタ以上高速に応答する必要のあること,用途,目的によりピエゾスキャナの動作範囲と応答スピードを決める必要のあること),電気回路(高速応答つまりSlew rateの向上が必要),4)応用例:短時間で画像を取得する(従来型AFMと高速AFMの比較),変化を観察する(高速AFMにより2フレーム/分で画像を取得したPDES(ポリジエチルシロキサン)の加熱冷却に伴う構造変化),作業効率をあげる(スクリーニングの応用例として60カ所を1時間で測定した例など)。
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分類 (2件):
分類
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電子顕微鏡,イオン顕微鏡  ,  図形・画像処理一般 
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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