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J-GLOBAL ID：201202205104647209   整理番号：12A0385872

損失正接イメージング:斥力モードタッピング原子間力顕微鏡の理論とシミュレーション

Loss tangent imaging: Theory and simulations of repulsive-mode tapping atomic force microscopy

著者 (2件)： PROKSCH Roger (Asylum Res., Santa Barbara, California 93117, USA) ,  YABLON Dalia G. (ExxonMobil Res. and Engineering, Annandale, New Jersey, USA)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 100  号： 7  ページ： 073106  発行年： 2012年02月13日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： カンチレバーの位相と正規化したカンチレバー振幅のみ使って,振幅を変調した原子間力顕微鏡における表面の損失正接測定の表式を導いた。これから,定量的情報を得るためカンチレバー共振の調整しか必要でない基板の組成情報を直接測定できる。さらに,この損失正接の表式は損失と蓄積エネルギー両方を1つの項へ取り込んでおり,この項は振幅変調イメージングにおける位相信号の基本的な解釈を表す。簡単なVoigtモデルで表した表面と相互作用するカンチレバーチップの数値解は,導いた損失正接と数パーセント内で一致した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *原子間力顕微鏡 ,  斥力 ,  片持梁 ,  共振 ,  化学組成 ,  固体的粘弾性 ,  *損失正接 ,  振幅変調
準シソーラス用語： *タッピングモード原子間力顕微鏡 ,  カンチレバー ,  Voigt粘弾性

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (7件)： 損失正接 ,  イメージング ,  斥力 ,  タッピング ,  原子間力顕微鏡 ,  理論 ,  シミュレーション