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J-GLOBAL ID:201202205362853921   整理番号:12A0140962

走査電子顕微鏡の電子チャネリングコントラスト画像による転位密度測定

Dislocation density measurement by electron channeling contrast imaging in a scanning electron microscope
著者 (2件):
資料名:
巻: 66  号:ページ: 343-346  発行年: 2012年03月 
JST資料番号: B0915A  ISSN: 1359-6462  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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500MPaのマクロ的応力に引張変形されたFe-3wt.%Si合金における制御回折条件下の走査電子顕微鏡の電子チャネリングコントラスト画像処理(ECCI)によって平均転位密度を測定した。最適回折条件下において,ECCIは明視野透過電子顕微鏡によって得られた平均転位密度に近い平均転位密度を提供した。この結果は,ECCIが変形バルク金属の転位密度決定に対して強力な技術であることを確認した。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
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金属の格子欠陥  ,  金属組織観察法 
タイトルに関連する用語 (5件):
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