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J-GLOBAL ID：201202205860603746   整理番号：12A1064994

軟X線角度分解光電子分光法によって測定された超伝導性LaRu₂P₂のバルクの電子構造

Bulk Electronic Structure of Superconducting LaRu₂P₂ Single Crystals Measured by Soft-X-Ray Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy

著者 (17件)： RAZZOLI E. (Paul Scherrer Inst., Velligen, CHE) ,  KOBAYASHI M. (Paul Scherrer Inst., Velligen, CHE) ,  KOBAYASHI M. (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  STROCOV V. N. (Paul Scherrer Inst., Velligen, CHE) ,  DELLEY B. (Paul Scherrer Inst., Velligen, CHE) ,  BUKOWSKI Z. (ETH Zuerich, Zuerich, CHE) ,  KARPINSKI J. (ETH Zuerich, Zuerich, CHE) ,  PLUMB N. C. (Paul Scherrer Inst., Velligen, CHE) ,  RADOVIC M. (Paul Scherrer Inst., Velligen, CHE) ,  RADOVIC M. (EPF Lausanne, Lausanne, CHE) ,  CHANG J. (Paul Scherrer Inst., Velligen, CHE) ,  CHANG J. (EPF Lausanne, Lausanne, CHE) ,  SCHMITT T. (Paul Scherrer Inst., Velligen, CHE) ,  PATTHEY L. (Paul Scherrer Inst., Velligen, CHE) ,  MESOT J. (Paul Scherrer Inst., Velligen, CHE) ,  MESOT J. (EPF Lausanne, Lausanne, CHE) ,  SHI M. (Paul Scherrer Inst., Velligen, CHE)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 108  号： 25  ページ： 257005.1-257005.5  発行年： 2012年06月22日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： 軟X線 ,  角度分解分光法 ,  光電子分光法 ,  *超伝導体 ,  *リン化物 ,  *ランタン化合物 ,  *ルテニウム化合物 ,  *電子構造 ,  密度汎関数法 ,  くりこみ ,  帯域幅 ,  高温超伝導体 ,  窒素族元素化合物 ,  鉄化合物
準シソーラス用語： ARPES ,  バンド幅 ,  鉄ニクタイド

分類 (1件)： その他の超伝導体の物性  (BM04025Q)

タイトルに関連する用語 (4件)： 軟X線 ,  角度分解光電子分光法 ,  バルク ,  電子構造