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J-GLOBAL ID：201202206644168829   整理番号：12A1481743

ナノインデンテーション試験とFEMの組合せによる圧電薄膜の工学/圧電定数の評価

Evaluation of engineering/piezoelectric constants of piezoelectric thin film by combining nanoindentation test with FEM

著者 (5件)： SONG S.T. (Xiangtan Univ., Hunan, CHN) ,  ZHENG X.J. (Xiangtan Univ., Hunan, CHN) ,  ZHENG H. (Xiangtan Univ., Hunan, CHN) ,  LIU W. (Xiangtan Univ., Hunan, CHN) ,  ZHENG X.J. (Univ. Shanghai for Sci. and Technol., Shanghai, CHN)
資料名： Computational Materials Science  (Computational Materials Science)
巻： 63  ページ： 134-144  発行年： 2012年10月 
JST資料番号： W0443A  ISSN： 0927-0256  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (8件)： ナノインデンテーション ,  試験 ,  FEM ,  組合せ ,  圧電薄膜 ,  工学 ,  圧電定数 ,  評価