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J-GLOBAL ID：201202206700950110   整理番号：12A0761752

X線蜃気楼回折ビームと底面反射ビームによる干渉縞(IFMRB)を用いた歪解析

著者 (1件)： SUKSWAT Jongsukswat (埼玉工大 大学院工学研究科)
資料名： 埼玉工業大学オープン・リサーチ・センター研究成果報告書
巻： 2011  ページ： 74  発行年： 2012年03月31日 
JST資料番号： L7781A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： X線蜃気楼回折ビームと底面反射ビームによる干渉縞(IFMRB)を用いると結晶内の10^-5以下の非常に小さな歪みを測定することが出来る。本研究ではこのIFMRBにより実際に歪みを与えた結晶の歪み解析する試みを行った。試料は平行平板型のSi結晶で,その寸法は長さ50mm,幅15mm,厚さ0.28mmである。この試料の一端を支えて,結晶内に自重による歪みが生じるようにした。この結晶内の歪みをIFMRBにより測定した。屈折ビームの軌道を規定する歪み勾配を表すパラメータβを測定結果より決定した。得られた結果は計算結果と良く一致することが確認できた。これより,IFMRB法を用いて,非常に小さな歪みを解析できることが実証できた。

シソーラス用語： *X線回折 ,  *干渉縞 ,  *格子歪 ,  ビーム ,  計測
準シソーラス用語： *X線蜃気楼回折 ,  底面反射ビーム ,  X線ビーム

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (7件)： X線 ,  回折 ,  ビーム ,  底面 ,  反射ビーム ,  干渉縞 ,  歪解析