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J-GLOBAL ID:201202206906310370   整理番号:12A0495551

原子層堆積したAl2O3オーバ層を利用したH終端ダイヤモンド表面上の正孔チャネルの熱安定化

Thermal Stabilization of Hole Channel on H-Terminated Diamond Surface by Using Atomic-Layer-Deposited Al2O3 Overlayer and its Electric Properties
著者 (3件):
資料名:
巻:号:ページ: 025701.1-025701.3  発行年: 2012年02月25日 
JST資料番号: F0599C  ISSN: 1882-0778  CODEN: APEPC4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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150°Cの高温でも,H終端p型チャネルダイヤモンド表面を熱的に安定化し,また濃度と高い移動度を完全に保持できる原子層堆積Al2O3オーバ層堆積法を確立した。230~500Kの範囲では,移動度は温度の逆数に比例し,縮退正孔ガスに特有な特性を示す。イオン化エネルギーは6.1meVと評価され,これは正孔が主に熱活性化で発生しないことを示唆する。この熱安定化技術により正孔特性を230°Cまで測定でき,また再現性良く高いドレイン電流が得られるH終端ダイヤモンド電界効果トランジスタを実現できる。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
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トランジスタ  ,  酸化物薄膜 
引用文献 (30件):
  • KOHN, E. Low-Pressure Synthetic Diamond. 1998
  • ISBERG, J. Science. 2002, 297, 1670
  • NAVA, F. Solid State Commun. 1980, 33, 475
  • REGGIANI, L. Phys. Rev. B. 1981, 23, 3050
  • GI, R. S. Jpn. J. Appl. Phys. 1995, 34, 5550
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