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J-GLOBAL ID：201202207153573078   整理番号：12A1149870

EEGエネルギーの解析に基づく擬似的脳死のブラインドテスト

Blind Testing of Quasi Brain Deaths Based on Analysis of EEG Energy

著者 (10件)： ZHOU Wei (Saitama Inst. of Technol., Saitama, JPN) ,  LIU Gang (Saitama Inst. of Technol., Saitama, JPN) ,  SHI Qiwei (Saitama Inst. of Technol., Saitama, JPN) ,  CUI Shilei (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  ZHOU Yina (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  ZHU Huili (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  WANG Rubin (East China Univ. Sci. and Technol., Shanghai, CHN) ,  CAO Jianting (Saitama Inst. of Technol., Saitama, JPN) ,  CAO Jianting (Riken, Saitama, JPN) ,  CAO Jianting (East China Univ. Sci. and Technol., Shanghai, CHN)
資料名： Lecture Notes in Computer Science  (Lecture Notes in Computer Science)
巻： 6840  ページ： 514-520  発行年： 2012年 
JST資料番号： H0078D  ISSN： 0302-9743  資料種別： 会議録 (C)
発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (7件)： EEG ,  エネルギー ,  解析 ,  擬似 ,  脳死 ,  ブラインド ,  テスト