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J-GLOBAL ID:201202207428620055   整理番号:12A0344787

メタフィルムやメタ表面の斜め入射TE波に対する特性を求めるための表面分極率モデルを用いた効率的な手法

Efficient Metafilm/Metasurface Characterization for Obliquely Incident TE Waves via Surface Susceptibility Models
著者 (4件):
資料名:
巻: 48  号:ページ: 367-370  発行年: 2012年02月 
JST資料番号: A0339B  ISSN: 0018-9464  CODEN: IEMGAQ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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メタフィルムやメタ表面の特性を表面の電気的磁気的分極率を用いて厳密に求める一般的手法について述べた。メタフィルムの粒子分極を垂直入射に対するSパラメータから導いて対応する表面分極率に対応付けるための新しい定式化を行い,得られたモデルを用いて斜め入射波に対する散乱パラメータを求める。種々のメタ材料ユニットセルに対する数値シミュレーション結果で提案手法の有効性,精度,並びに利点について報告した。
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分類 (2件):
分類
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試料技術  ,  固体の表面構造一般 

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