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J-GLOBAL ID：201202207982565279   整理番号：12A1637359

材料化学への電子線トモグラフィーの応用における最近の進歩

Recent Advances in the Application of Electron Tomography to Materials Chemistry

著者 (3件)： LEARY Rowan (Univ. Cambridge, Cambridge, GBR) ,  MIDGLEY Paul A. (Univ. Cambridge, Cambridge, GBR) ,  THOMAS John Meurig (Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
資料名： Accounts of Chemical Research  (Accounts of Chemical Research)
巻： 45  号： 10  ページ： 1782-1791  発行年： 2012年10月 
JST資料番号： B0966A  ISSN： 0001-4842  CODEN： ACHRE4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電子線の損傷に脆弱である検体に関し,必要とされる一連の2次元電子顕微鏡像を記録し,その後で3次元に再構築する方法の進歩を示す。比較的少ない2D画像に構造的知識を組み込むことにより3次元に再構築し,忠実度の高い3次元断層を得る方法を説明する。特に強調する圧縮センシングは,画像圧縮と「まばらさ」を利用する最近開発された方法であり,データセットは少ないが再構築用の重要な情報が含まれている。別の期待できるアプローチである「離散」トモグラフィーでは,構成材料の数や密度などの独立(離散)した項目で対象を記述できると仮定して再構築する。さらに,収差補正電子顕微鏡や電子波長分光器や最新式の試料ゴニオメータが利用できるようになって,様々なナノ構造材料を定量的に3次元で研究できるようになり,材料化学の知識が充実するだろう。

シソーラス用語： *トモグラフィー ,  電子回折 ,  データ圧縮 ,  画像再構成 ,  収差補正 ,  電子スペクトロメータ ,  ゴニオメータ ,  ナノ粒子 ,  *ナノ構造 ,  *材料 ,  *ナノ材料
準シソーラス用語： *電子線トモグラフィー

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (3件)： 材料化学 ,  電子線トモグラフィー ,  応用