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J-GLOBAL ID：201202208002869591   整理番号：12A1436853

X線反射率測定による電気化学成長の時分割観察

Time-resolved observation of electrochemical thin-film growth by X-ray reflectivity

著者 (4件)： VOEGELI Wolfgang (KEK) ,  MATSUSHITA Tadashi (KEK) ,  ARAKAWA Etsuo (Tokyo Gakugei Univ.) ,  YANO Yohko F. (Kinki Univ.)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Meeting. Japan Society of Applied Physics (CD-ROM))
巻： 73rd  ページ： ROMBUNNO.12A-PB1-13  発行年： 2012年08月27日 
JST資料番号： Y0055B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *計測 ,  *化学蒸着 ,  *固液界面 ,  *電気化学蒸着 ,  *X線反射率法
準シソーラス用語： *X線反射率測定

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (5件)： X線反射率測定 ,  電気化学 ,  成長 ,  時分割 ,  観察