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J-GLOBAL ID：201202208573319904   整理番号：12A1114977

テスタビリティ駆動の統計的経路選択

Testability-Driven Statistical Path Selection

著者 (4件)： CHUNG Jaeyong (Synopsys, Inc., CA, USA) ,  XIONG Jinjun (IBM Thomas J. Watson Res. Center, NY, USA) ,  ZOLOTOV Vladimir (IBM Thomas J. Watson Res. Center, NY, USA) ,  ABRAHAM Jacob A. (Univ. Texas, TX, USA)
資料名： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 31  号： 8  ページ： 1275-1287  発行年： 2012年08月 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： モンテカルロシミュレーションで評価したポスト自動テストパターン発生(ATPG)結果によるクリティカリティに基づき,経路選択におけるテスタビリティ駆動方式を提案した。決定論的経路選択において本方式は高速化のオプションと考えられるが,結果として統計的経路選択における高いテスト品質を保証する上で本方式が極めて重要であることを示した。テスタビリティを第一に考えて,プロセスパラメータ空間においてクリティカルテスト可能経路カバレッジメトリックを定義した。経路選択アルゴリズムを開発し,充足可能性(SAT)ソルバを統合した。この新しい統合法では従来の方式に比べて大幅な高速化を実現し,本経路選択アルゴリズムとの相乗作用も示した。

シソーラス用語： *可試験性 ,  *経路選定 ,  アルゴリズム ,  シミュレーション ,  テストパターン ,  応用プログラム ,  充足可能性問題 ,  統計的方法 ,  *通信操作
準シソーラス用語： ATPG ,  ソルバ ,  *テスタビリティ ,  モンテカルロシミュレーション ,  *経路選択 ,  *経路選択アルゴリズム ,  自動テストパターン発生器 ,  統計的技法

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (3件)： テスタビリティ ,  統計 ,  経路選択