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J-GLOBAL ID：201202208669211063   整理番号：12A0723338

薄い超伝導ワイヤの電流こみあいによる臨界電流の減少

Critical-current reduction in thin superconducting wires due to current crowding

著者 (5件)： HORTENSIUS H. L. (Kavli Inst. of Nanoscience, Fac. of Applied Sciences, Delft Univ. of Technol., Delft, NLD) ,  DRIESSEN E. F. C. (Kavli Inst. of Nanoscience, Fac. of Applied Sciences, Delft Univ. of Technol., Delft, NLD) ,  KLAPWIJK T. M. (Kavli Inst. of Nanoscience, Fac. of Applied Sciences, Delft Univ. of Technol., Delft, NLD) ,  BERGGREN K. K. (Kavli Inst. of Nanoscience, Fac. of Applied Sciences, Delft Univ. of Technol., Delft, NLD) ,  CLEM J. R. (Ames Lab. and Dep. of Physics and Astronomy, Iowa State Univ., Ames, Iowa 50011 USA)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 100  号： 18  ページ： 182602-182602-4  発行年： 2012年04月30日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 超伝導NbTiNワイヤの臨界電流は電流のこみあい効果により幾何形状に従うことを実験的に実証した。90°コーナ及びワイヤ幅の急激な増加のような形状パターンにより臨界電流が減少することが分かった。これらの結果は単一フォトン検出器及びパラメトリック増幅器に適している。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *超伝導線 ,  *ニオブ合金 ,  チタン含有合金 ,  窒化物 ,  *ナノワイヤ ,  *臨界電流 ,  曲げ ,  拡幅 ,  形状効果 ,  温度依存性 ,  光検出器 ,  パラメトリック増幅器
準シソーラス用語： 幅広がり

分類 (1件)： 金属系超伝導体の物性  (BM04022R)

タイトルに関連する用語 (3件)： 伝導 ,  ワイヤ ,  臨界電流