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J-GLOBAL ID：201202208791009011   整理番号：12A0056019

最新の非破壊検査に活用されるX線技術 1)非破壊検査装置向けX線カメラ Rad-icon Imaging社

著者 (1件)： 斎藤浩 (アド・サイエンス)
資料名： 検査技術  (Inspection Engineering (Tokyo))
巻： 17  号： 1  ページ： 61-65  発行年： 2012年01月01日 
JST資料番号： L3524A  ISSN： 1342-9825  CODEN： KGEIAS  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 非破壊検査装置に用いるRad-Imaging社製X線CMOSセンサカメラと2種のフラットパネルディテクタを報告した。カメラでは,RadEye100を挙げ,その外観を示し,構造と画像取り込みシステムを図説した。第1のディテクタでは,大面積のSkiaGraphシリーズを2種(8EV型と10EV型)を紹介し,両者の構造と仕様と外観を示した。また画像取り込み法を述べ,画像例を紹介した。第2では,高速Shad-o-Box-HSシリーズの特徴と仕様と外観を示した。

シソーラス用語： *X線カメラ ,  フラットパネルディスプレイ ,  X線CT ,  画像処理システム ,  *イメージセンサ ,  X線検査 ,  フォトダイオードアレイ検出器 ,  *X線検出 ,  *放射線検出器 ,  *X線検出器
準シソーラス用語： *CMOS画像センサ

分類 (4件)： 材料試験一般  (HB01000R) ,  写真機とその付属品  (QF05030V) ,  光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H) ,  計測機器一般  (AD02000X)

タイトルに関連する用語 (4件)： 非破壊検査 ,  活用 ,  X線技術 ,  X線カメラ