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J-GLOBAL ID：201202209115868857   整理番号：12A0233331

光起電力素子の経済的影響とホットスポット欠陥への解決法

ECONOMIC IMPACTS AND APPROACHES TO ADDRESS HOT-SPOT DEFECTS IN PHOTOVOLTAIC DEVICES

著者 (4件)： HUDSON J. (Tau Sci. Corp., CA) ,  VASILYEV L. (Tau Sci. Corp., CA) ,  SCHMIDT J. (Tau Sci. Corp., CA) ,  HORNER G. (Tau Sci. Corp., CA)
資料名： Conference Record of the IEEE Photovoltaic Specialists Conference  (Conference Record of the IEEE Photovoltaic Specialists Conference)
巻： 35th Vol.3  ページ： 1706-1709  発行年： 2010年 
JST資料番号： E0756A  ISSN： 0160-8371  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ホットスポットの話題が最近のプレスで取り上げられ,ホットスポットと積層損傷(バブル)または永久局所電池劣化などモジュール不良間の連関によりある程度の産業界の注目を集めている。最近,光起電力(PV)素子メーカが,特に創業者コスト,測定速度とホットスポットを完全自動化方式で選別する目的に基づく方法のインラインホットスポット選別を,強化した電池とモジュール試験で開始した。品質管理用にPVメーカの使用のために設計した時間分解サーモグラフィ(断層撮影法)について述べ,このタイプの電池選別をインライン化するのに生じる経済要因について概観した。太陽光電力プラントの展開拡大により,PVメーカのより実際的でより集中した顧客ベースへのシフトを生じた。モジュール出力を追跡するインバータの展開とともにこの傾向は,メーカがそのモジュールのフイールドでの信頼性をより詳細に把握し,実現するように牽引している。フィールド不良とモジュール劣化,ホットスポット欠陥の主要源の一つを解決するため,製造環境内でTau ScienceのIRIS基盤など既存システムを既に展開した。これらのシステムは成功と投資収益率を実現した。

シソーラス用語： *光起電素子 ,  点欠陥 ,  *ホットスポット ,  *経済効果 ,  *故障モード ,  赤外線カメラ ,  因子分析 ,  *スクリーニング ,  *品質管理 ,  サーモグラフィー ,  表面温度 ,  微小亀裂 ,  電気抵抗
準シソーラス用語： 根本原因分析法 ,  シャント抵抗

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (5件)： 光起電力素子 ,  経済的影響 ,  ホットスポット ,  欠陥 ,  解決法