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J-GLOBAL ID：201202210417942140   整理番号：12A0911626

ドナーをドープしたPb(Zr_xTi_1-x)O₃の酸化物イオン輸送:表面近傍拡散特性

Oxide Ion Transport in Donor-Doped Pb(Zr_xTi_1-x)O₃: Near-Surface Diffusion Properties

著者 (3件)： FROEMLING Till (Vienna Univ. Technol., Vienna, AUT) ,  HUTTER Herbert (Vienna Univ. Technol., Vienna, AUT) ,  FLEIG Juergen (Vienna Univ. Technol., Vienna, AUT)
資料名： Journal of the American Ceramic Society  (Journal of the American Ceramic Society)
巻： 95  号： 5  ページ： 1692-1700  発行年： 2012年05月 
JST資料番号： C0253A  ISSN： 0002-7820  CODEN： JACTAW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ドナーをドープしたPb(Zr_xTi_1-x)O₃の酸化物イオン輸送を¹⁸Oトレーサ拡散と飛行時間二次イオン質量分光分析で調べた。0.5mol%のニオブ酸ストロンチウムをドープしたZr/Ti比=52/48のPZTと1.5mol%のNdをドープしたPZTを用いた。0.2barの¹⁸O₂中400~650°Cで加熱した。600°C以上で表面近傍に酸素空孔に富んだ空間電荷層の存在が認められ,ボックス型拡散プロファイルを示した。650°Cではプロファイル形状が変化し,表面近傍の酸素空孔が減少した。600~650°Cで表面電荷の極性が変化した。プロファイル形状は表面改質に非常に敏感であった。実験データを有限要素計算と比較した。

シソーラス用語： *ジルコニウム酸チタン酸鉛 ,  *ドナー ,  *ドーピング ,  イオン ,  酸化物 ,  *イオン輸送 ,  *表面拡散 ,  酸素18 ,  *トレーサ法 ,  *二次イオン質量分析 ,  飛行時間法 ,  ストロンチウム化合物 ,  ニオブ酸塩 ,  ネオジム ,  空格子点 ,  空乏層 ,  有限要素法 ,  酸化鉛 ,  酸化ジルコニウム ,  酸化チタン ,  炭酸ストロンチウム ,  酸化ニオブ ,  焼結
準シソーラス用語： PZT【鉛化合物】 ,  *酸化物イオン ,  飛行時間二次イオン質量分析 ,  ニオブ酸ストロンチウム ,  酸素空孔 ,  空間電荷層 ,  SIMS【質量分析】

分類 (1件)： 固体中の拡散一般  (BL06021L)

タイトルに関連する用語 (8件)： ドナー ,  ドープ ,  Pb ,  O3 ,  酸化物イオン ,  輸送 ,  近傍 ,  拡散