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J-GLOBAL ID：201202211315273810   整理番号：12A1165952

透過型電子顕微鏡による6H-SiC上の少数層グラフェンのPlan-View

Plan-View of Few Layer Graphene on 6H-SiC by Transmission Electron Microscopy

著者 (5件)： KUROKI Jun (Dep. of Applied Chemistry, Graduate School of Engineering, Nagoya Univ., JPN) ,  NORIMATSU Wataru (Dep. of Applied Chemistry, Graduate School of Engineering, Nagoya Univ., JPN) ,  NORIMATSU Wataru (Japan Fine Ceramics Center, JPN) ,  KUSUNOKI Michiko (Japan Fine Ceramics Center, JPN) ,  KUSUNOKI Michiko (EcoTopia Sci. Inst., Nagoya Univ., JPN)
資料名： e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web)  (e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web))
巻： 10  ページ： 396-399 (J-STAGE)  発行年： 2012年 
JST資料番号： U0016A  ISSN： 1348-0391  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Plan-View式の透過型電子顕微鏡(TEM)観察を,SiC[0001]方向に沿って初めて行い,SiCのSi面およびC面上のグラフェンの面内構造を解析した。TEM像の高速Fourier変換(FFT)および再構築逆FFT(iFFT)像により,積層構造を検討することができた。Si面およびC面上の幾つかのグラフェン層のFFTパターンは,6倍の1100 spotの1つおよび複数セットをそれぞれ示した。これらは,Si面上の幾つかの結晶粒グラフェン層は回転をしないで積層したが,C面上のグラフェン層は回転して積層することを意味した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *炭素材 ,  グラファイト ,  ナノ構造 ,  単一層 ,  基板 ,  *炭化ケイ素 ,  結晶面 ,  *透過型電子顕微鏡 ,  *電子顕微鏡観察 ,  Fourier変換 ,  画像再構成 ,  *積層構造 ,  結晶粒 ,  層 ,  回転 ,  表面 ,  配向 ,  *グラフェン
準シソーラス用語： 画像再構築 ,  回転積層 ,  積層 ,  配向性

分類 (5件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  炭素とその化合物  (YB02060D) ,  塩  (CD01050V) ,  その他の無機化合物の結晶成長  (BK13060T) ,  その他の無機化合物の結晶構造  (BK07030J)

タイトルに関連する用語 (3件)： 透過型電子顕微鏡 ,  6H-SiC ,  少数層グラフェン