RYKACZEWSKI Konrad について
National Inst. of Standards and Technol., Maryland, USA について
Langmuir について
疎水性 について
表面 について
液滴 について
機構 について
走査電子顕微鏡 について
底面 について
モデリング について
環境制御型走査型電子顕微鏡 について
基底面 について
成長機構 について
超疎水性 について
固-液界面 について
膜流,液滴,気泡,キャビテーション について
疎水性 について
水 について
凝縮 について
液滴 について
成長 について