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J-GLOBAL ID：201202211540872749   整理番号：12A0337521

Fourier画像再構成を利用したエレクトロルミネセンス画像における太陽電池の欠陥の検出

Defect detection of solar cells in electroluminescence images using Fourier image reconstruction

著者 (3件)： TSAI Du-ming (Dep. of Industrial Engineering & Management, Yuan-Ze Univ., 135 Yuan-Tung Road, Nei-Li, Tao-Yuan, Taiwan, TWN) ,  WU Shih-chieh (Dep. of Industrial Engineering & Management, Yuan-Ze Univ., 135 Yuan-Tung Road, Nei-Li, Tao-Yuan, Taiwan, TWN) ,  LI Wei-chen (Dep. of Industrial Engineering & Management, Yuan-Ze Univ., 135 Yuan-Tung Road, Nei-Li, Tao-Yuan, Taiwan, TWN)
資料名： Solar Energy Materials and Solar Cells  (Solar Energy Materials and Solar Cells)
巻： 99  ページ： 250-262  発行年： 2012年04月 
JST資料番号： D0513C  ISSN： 0927-0248  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 太陽パワーは,魅力ある電気の代替源である。太陽パワーシステムのベースとなる太陽電池は,主に結晶シリコンに基づいている。従来のCCD画像システムでは,多くの欠陥は可視的でない。この論文では,エレクトロルミネセンス(EL)画像における多結晶太陽電池の欠陥分析をまとめた。電流を充電した太陽電池は赤外光を放射し,その強度は固有結晶粒界および小規模亀裂,裂け目とフィンガー断点では小さくなる。EL画像では,暗体として可視的欠陥が浮かび上がるが,背景にランダムな暗領域が分布し,このためEL画像の自動的探査を困難にしている。EL画像による太陽電池の欠陥検出のために,Fourier画像再構成法に基づく自己参照法を提案した。標的の欠陥は,EL画像では線状または棒状の対物として出現する。Fourier画像再構成法を適用すると,線状または棒状欠陥に関係する周波数成分を零にセットし,次にスペクトル画像をバック変換して空間画像を得ることにより,可能な欠陥を除去する。元の画像とその再構成画像の間のグレーレベル差を評価して,欠陥領域を容易に同定できる。参照画像は探査画像自身から生成し,従って,ランダムな不均一背景も受容できる。種種の太陽電池セットで得られた実験結果から,提案した方法が,小規模亀裂,破断とフィンガー断点の検出に有効であることがわかった。提案した方法の計算時間も高速であり,実用的実施に適している。サイズが550×550ピクセルをもつ全太陽電池画像の分析に要する時間は僅かに0.29秒であった。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *エレクトロルミネセンス ,  *太陽電池 ,  *ポリシリコン ,  *解析 ,  画像再構成 ,  Fourier変換 ,  結晶粒界 ,  亀裂
準シソーラス用語： *欠陥分析

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (4件)： 画像再構成 ,  エレクトロルミネセンス ,  太陽電池 ,  欠陥