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J-GLOBAL ID：201202211944665488   整理番号：12A1507428

「パンダ」型偏波保存光ファイバの光学的性質と微細構造に及ぼす160keVの電子照射の効果

Effects of 160keV electron irradiation on the optical properties and microstructure of “Panda” type Polarization-Maintaining optical fibers

著者 (5件)： HONG-CHEN Zhang (Space Materials and Environment Engineering Lab., Harbin Inst. of Technol., Harbin 150001, CHN) ,  HAI Liu (Space Materials and Environment Engineering Lab., Harbin Inst. of Technol., Harbin 150001, CHN) ,  HUI-JIE Xue (Heilongjiang Key Lab. for Low Dimensional and Mesoscopic Physics, School of Physics and Electronic Engineering ...) ,  WEN-QIANG Qiao (Space Materials and Environment Engineering Lab., Harbin Inst. of Technol., Harbin 150001, CHN) ,  SHI-YU He (Space Materials and Environment Engineering Lab., Harbin Inst. of Technol., Harbin 150001, CHN)
資料名： Optics Communications  (Optics Communications)
巻： 285  号： 24  ページ： 4779-4784  発行年： 2012年11月01日 
JST資料番号： A0678B  ISSN： 0030-4018  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,「パンダ」型偏波保存光ファイバに及ぼす160keVの電子照射の効果を波長1310nmで研究した。1310nmでは,電子ビームで光ファイバに誘導された減衰係数は電子フルエンスの増加で増大した。電子照射誘起の損傷機構をCasinoシミュレーションプログラム,X線光電子分光法(XPS),ESRスペクトロメータ(EPR),FTIR分光法(FTIR)で研究した。この結果は,Si-OHの不純物欠陥濃度が1310nmでの減衰係数の増大の主要な原因であることを示した。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： シミュレーション言語 ,  ESRスペクトロメータ ,  シミュレーション ,  光電子分光法 ,  *光学的性質 ,  フルエンス ,  電子ビーム ,  減衰定数 ,  *偏波面保存ファイバ ,  微細構造 ,  電子照射
準シソーラス用語： シミュレーションプログラム ,  減衰係数

分類 (1件)： 光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (7件)： 型 ,  偏波 ,  保存 ,  光ファイバ ,  光学的性質 ,  微細構造 ,  電子照射