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J-GLOBAL ID：201202212037233778   整理番号：12A1720075

LaFeO₃薄膜及び埋込みナノ構造中の反強磁性ドメインパターンのX-PEEM研究

X-PEEM study of antiferromagnetic domain patterns in LaFeO₃ thin films and embedded nanostructures

著者 (3件)： FOLVEN Erik (Dep. of Electronics and Telecommunications, Norwegian Univ. of Sci. and Technol., NO-7491 Trondheim, NOR) ,  TAKAMURA Yayoi (Dep. of Chemical Engineering and Materials Sci., Univ. of California, Davis, Davis, CA 95616, USA) ,  GREPSTAD Jostein K. (Dep. of Electronics and Telecommunications, Norwegian Univ. of Sci. and Technol., NO-7491 Trondheim, NOR)
資料名： Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena  (Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena)
巻： 185  号： 10  ページ： 381-388  発行年： 2012年10月 
JST資料番号： D0266C  ISSN： 0368-2048  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 軟X線吸収分光と光電子顕微鏡(X-PEEM)の組合せは磁気整列システムのドメイン構造のイメージングのための強力なツールを提供する。Advanced Light SourceのPEEM-3顕微鏡の直線偏光X線を使用してLaFeO₃薄膜及びナノ構造中の反強磁性(AFM)ドメインパターンを調べた。AFM秩序をもつ埋込みナノ構造をAr⁺イオン注入による磁気秩序の局所破壊に頼った構造化法を使用して決定した。エッジを薄膜材料のAFM容易軸に整列させたとき,広がったAFMドメインをそのような埋込みナノ構造のエッジに沿って安定化し得ることを示した。LaFeO₃/La_0.3Sr_0.7MnO₃バイレヤからの偏光依存X-PEEMデータの磁気直線二色性の詳細な分析はLaFeO₃相の多重縮退容易軸の安定化を示した。立方晶基板(すなわちSrTiO₃)上に直接成長させたLaFeO₃には存在しない容易軸の余剰セットは,実効基板として働くLa_0.7Sr_0.3MnO₃バッファ層に結合した構造から生じると考えた。最後に,この構造摂動とナノスケールのパターニングの組合せを容易軸のどちらかに沿った拡張AFMドメインを選択的に安定化するためにいかに利用できるかを示した。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *ペロブスカイト型結晶 ,  *ランタン化合物 ,  *鉄酸塩 ,  反強磁性体 ,  *磁区構造 ,  磁性薄膜 ,  ナノ構造 ,  埋込み【挿入】 ,  *電子顕微鏡観察 ,  パターン形成 ,  X線吸収スペクトル ,  磁気円二色性
準シソーラス用語： *PEEM【電顕】 ,  XPEEM ,  *鉄酸ランタン

分類 (3件)： 磁区・磁化過程一般  (BM06111M) ,  電気光学効果,磁気光学効果  (BM08020L) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (7件)： 薄膜 ,  埋込み ,  ナノ構造 ,  反強磁性 ,  ドメイン ,  PEEM ,  研究