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J-GLOBAL ID：201202213678041611   整理番号：12A0911630

NbをドープしたTiO₂,SnO₂及びZrO₂の陽電子消滅寿命研究

Positron Annihilation Lifetime Studies of Nb-Doped TiO₂, SnO₂, and ZrO₂

著者 (6件)： GUAGLIARDO Paul R. (Univ. Western Australia, WA, AUS) ,  VANCE Eric R. (Australian Nuclear Sci. and Technol. Organisation, NSW, AUS) ,  ZHANG Zhaoming (Australian Nuclear Sci. and Technol. Organisation, NSW, AUS) ,  DAVIS Joel (Australian Nuclear Sci. and Technol. Organisation, NSW, AUS) ,  WILLIAMS Jim F. (Univ. Western Australia, WA, AUS) ,  SAMARIN Sergey N. (Univ. Western Australia, WA, AUS)
資料名： Journal of the American Ceramic Society  (Journal of the American Ceramic Society)
巻： 95  号： 5  ページ： 1727-1731  発行年： 2012年05月 
JST資料番号： C0253A  ISSN： 0002-7820  CODEN： JACTAW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Nb又はTbをドープしたTiO₂,SnO₂及びZrO₂を大気中,Ar中1400°Cで焼成し,X線回折,SEM,XANESで特性評価し,陽電子消滅寿命分光(PALS)を調べた。NbドープしたTiO₂のPALS寿命は0.157~0.241nsで,大気中,Ar中いずれでもNdドープにより増加し,Ti空孔生成による電荷補償を示した。PALS結果はXANES測定共一致した。Taドープした場合のPALS寿命も0.227nsで,5価のTaとNbによるバンド構造への影響は同様であることを示した。

シソーラス用語： *陽電子消滅 ,  チタン化合物 ,  アルコラート ,  *酸化ニオブ ,  焼成 ,  *酸化スズ ,  ジルコニウム化合物 ,  *ドーピング ,  大気中 ,  アルゴン ,  スペクトロスコピー ,  寿命 ,  空格子点 ,  不純物補償 ,  *酸化チタン ,  *酸化ジルコニウム
準シソーラス用語： *PALS【分光法】 ,  空孔【点欠陥】 ,  電荷補償

分類 (2件)： 陽電子消滅  (BK16052L) ,  セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V)

物質索引 (2件)： テトライソプロポキシチタン ,  テトラブトキシジルコニウム(IV)

タイトルに関連する用語 (6件)： Nb ,  ドープ ,  TiO2 ,  ZrO2 ,  陽電子消滅寿命 ,  研究