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J-GLOBAL ID:201202213931325265   整理番号:12A0562936

マグネトロンスパッタリングにより作製したSi1-xMnx膜の強磁性と構造に及ぼす熱処理温度効果

Annealing temperature effects on ferromagnetism and structure of Si1-x Mn x films prepared by magnetron sputtering
著者 (9件):
資料名:
巻: 86  号:ページ: 1358-1362  発行年: 2012年03月14日 
JST資料番号: E0347A  ISSN: 0042-207X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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マグネトロンスパッタリング法を用いて,Si1-xMnx希釈磁性半導体膜を,p-Si(100)単結晶ウエハの上に堆積させた。後の急速熱処理を,温度700,800及び900°Cのアルゴン雰囲気中で約5分間行った。交流磁気勾配磁力計,走査型電子顕微鏡,原子間力顕微鏡,X線回折およびX線吸収端近傍微細構造スペクトルが,堆積直後および熱処理後の膜の磁気特性および構造評価のために,採用された。膜は約2.8μm厚さで,表面のRMS粗さは約5ないし10nmであった。全試料が,室温で強磁性を示し,飽和磁化は700°Cで熱処理した試料で最大値に達した。ケイ化物MnSi1.7が熱処理した試料では観測された。X線吸収端近傍微細構造スペクトルは,700°Cで熱処理したとき,Mn原子が置換型或いは侵入型サイト占有を,ケイ化物形成のための析出より好むことを示した。観測された強磁性が,700°Cで熱処理した試料に多く見いだされる侵入型若しくは置換型Mn2量体に帰せられると推論された。900°Cで熱処理した試料の弱い強磁性は,Mn4Si7化合物の含有量増加と密接に関係した。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (3件):
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半導体薄膜  ,  磁区・磁化過程一般  ,  磁性材料 
タイトルに関連する用語 (5件):
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