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J-GLOBAL ID：201202214085080471   整理番号：12A0047250

鮮鋭化とマスク画像を用いた粒子追跡~前回画像の粒子位置を考慮したアルゴリズム~

著者 (1件)： 伊藤大輔 (徳島大 大学院先端技術科学教育部)
資料名： ViEWビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集(CD-ROM)  (ViEW講演論文集(CD-ROM))
巻： 2010  ページ： 461  発行年： 2010年 
JST資料番号： L4705C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： メラニンなどの粒子画像における,特定の粒子を追跡する手法として,鮮鋭化とマスク画像を用いた手法を提案する。鮮鋭化を行った画像にマスクをかけることにより,動きの少ない注目粒子以外を取り除くことができ,追跡精度の向上につながる。(著者抄録)

シソーラス用語： *マスキング ,  追跡 ,  粒子 ,  生物色素 ,  *画像処理 ,  外観検査
準シソーラス用語： メラニン ,  *粒子追跡

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (3件)： マスク ,  粒子追跡 ,  アルゴリズム