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J-GLOBAL ID：201202216722520254   整理番号：12A1253625

標準試験条件下での薄膜PVモジュールの特性評価:室内と室外測定結果と日光照射の影響

Characterization of thin film PV modules under standard test conditions: Results of indoor and outdoor measurements and the effects of sunlight exposure

著者 (4件)： MUNOZ-GARCIA M.a. (EUIT Agricola, UPM, Madrid, ESP) ,  MARIN O. (EUIT Agricola, UPM, Madrid, ESP) ,  ALONSO-GARCIA M.c. (PV LabDER, CIEMAT, Madrid, ESP) ,  CHENLO F. (PV LabDER, CIEMAT, Madrid, ESP)
資料名： Solar Energy  (Solar Energy)
巻： 86  号： 10  ページ： 3049-3056  発行年： 2012年10月 
JST資料番号： E0099A  ISSN： 0038-092X  CODEN： SRENA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 薄膜技術に基づく光電モジュールは,光電市場で重要性を得つつあり,モジュール設置者とプラント所有者はモジュールの品質管理を行う手法をますます要求し始めている。これらのモジュールは標準試験条件(STC)下の電力測定に,モジュールの温度と環境変数により引き起こされる問題以上の,追加の問題を置く。最も主要な困難は,モジュールの出力率は,それらが最近の時間に太陽に晒された時間量と,太陽照射の履歴の両方に依存して変わることである。モジュールの現在の状態を評価するために,その太陽照射履歴を知る必要がある。従って,発電した電力の測定の反復性を保証する容易に達成可能な試験手法が必要である。この論文は,測定を得るための最善の方法を見つけるために,商業的なCIS,a-SiとCdTe技術,の薄膜モジュールで行う異なる試験を調べる。太陽照射の期間を考慮した,これらの技術の屋内測定を得るための方法を提案する。市場で早急に成長する技術としてCdTeに特別の注意を払う。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： 太陽電池 ,  技術 ,  *太陽光発電 ,  放射照度 ,  *太陽放射 ,  *テルル化カドミウム ,  電気測定
準シソーラス用語： *薄膜太陽電池 ,  *薄膜技術 ,  太陽放射照度 ,  CdTe ,  電力測定

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (10件)： 標準 ,  試験 ,  薄膜 ,  PV ,  モジュール ,  特性評価 ,  室内 ,  室外 ,  測定結果 ,  日光照射