ANTONELLO J. について
Delft Univ. Technol., Delft, NLD について
FRAANJE R. について
Delft Univ. Technol., Delft, NLD について
SONG H. について
Delft Univ. Technol., Delft, NLD について
SONG H. について
Zhejiang Univ. Hangzhou, CHN について
VERHAEGEN M. について
Delft Univ. Technol., Delft, NLD について
GERRITSEN H. について
Utrecht Univ., Utrecht, NLD について
KELLER C. U. について
Leiden Univ., Leiden, NLD について
VAN WERKHOVEN T. について
Utrecht Univ., Utrecht, NLD について
VAN WERKHOVEN T. について
Leiden Univ., Leiden, NLD について
Proceedings of SPIE について
収差 について
顕微鏡 について
光学系 について
修正 について
センサ について
モデリング について
評価試験 について
システム同定 について
分散【variance】 について
計測システム について
バイアス について
データ駆動モデリング について
収差訂正 について
光の像形成 について
光学的測定とその装置一般 について
モデルベース について
適応光学 について
データ駆動 について
同定 について
収差 について
訂正 について