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J-GLOBAL ID:201202217063984600   整理番号:11A1988113

熱イオン化質量分析計に伴う痕跡量Pu分析におけるCrRe+(クロムレニウム),FeRe+(鉄レニウム)イオンからの背景干渉の研究

Study of the background interference from CrRe+,FeRe+ ions in the trace amount Pu analysis with thermal ionization mass spectrometer
著者 (5件):
資料名:
巻: 47  号:ページ: 1365-1370  発行年: 2010年 
JST資料番号: C2595A  ISSN: 0490-6756  CODEN: SCTHAO  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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痕跡量Pu同位体存在比の分析の間の背景干渉は無視できない。以前の研究は背景干渉のソースを完全に示さなかった。ソースの新しい判断をこの論文で提案した。おそらく,その背景はサンプルのための不純物元素Cr,金属ReフィラメントのFeと共にReイオンの組合せから生じる。また,理論的および実験的アスペクトから検証を実施した。まず第一に,CrRe+FeRe+イオンの構造,ポテンシャルエネルギー,および熱力学的パラメーターをGaussian03プログラムでシミュレートして,計算結果はこれらのイオンが成形の後に存在できるのを意味する。第二に,それぞれCr,Feを抽出した後に,質量範囲237~243のスペクトルをTIMSによってスキャンして,質量スペクトルの数値は,サンプルフィラメントからの対応するピークの強度が,空白のフィラメントからのそれらより大きいのを示している。したがって,237~243の質量範囲における背景干渉源は二原子の化合物分子であるはずで,痕跡量Pu同位体存在率比率分析の間に金属Reイオンと不純物元素Cr,サンプルフィラメントのFeの組合せであるという結論を出す。本研究は,著者らが背景干渉を減らして,実験データの精度を増加させるように測定を行うのを助けることができる。
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分類 (1件):
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計算理論 

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