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J-GLOBAL ID：201202217138990156   整理番号：12A0430823

一次元構造上の原子間力顕微鏡による三次元機械的測定

3D mechanical measurements with an atomic force microscope on 1D structures

著者 (4件)： KALLESOE Christian (Dep. of Micro- and Nanotechnology, Technical Univ. of Denmark, Kgs. Lyngby, DK-2800, DNK) ,  LARSEN Martin B. (Dep. of Micro- and Nanotechnology, Technical Univ. of Denmark, Kgs. Lyngby, DK-2800, DNK) ,  BOGGILD Peter (Dep. of Micro- and Nanotechnology, Technical Univ. of Denmark, Kgs. Lyngby, DK-2800, DNK) ,  MOLHAVE Kristian (Dep. of Micro- and Nanotechnology, Technical Univ. of Denmark, Kgs. Lyngby, DK-2800, DNK)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 83  号： 2  ページ： 023704  発行年： 2012年02月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 基板上に起立したナノロッドなどの三次元ナノ構造の機械的性質を特性化するための簡単な方法を開発した。原子間力顕微鏡と共に片持梁プローブにより,表面の探針に通常用いられる探針先端よりも片持梁自体の先端を用いて,ナノロッドに沿った異なる位置における水平方向に整列したナノロッドを検出できる。これによりナノ構造のばね定数を正確に決定できる。これらの測定から,幾何構造や材料構造の異なる多くの個々のナノロッドのYoung率を短時間で得た。この方法に基づいて炭素ナノファイバとエピタキシャル成長III-VナノワイヤのYoung率を決定した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *ナノロッド ,  *原子間力顕微鏡 ,  片持梁 ,  ばね定数 ,  *Young率 ,  ナノワイヤ ,  ナノファイバ
準シソーラス用語： 微小片持梁

分類 (1件)： 固体の機械的性質一般  (BL01021C)

タイトルに関連する用語 (3件)： 一次元構造 ,  原子間力顕微鏡 ,  機械的測定