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J-GLOBAL ID：201202218185965620   整理番号：12A0728021

素手での取り扱い限界以下の放射能を用いたサブミクロン摩耗測定

Sub-micron wear measurement using activities under the free handling limit

著者 (9件)： DITROI F. (Inst. of Nuclear Res. of the Hungarian Acad. of Sciences, Debrecen, HUN) ,  TAKACS S. (Inst. of Nuclear Res. of the Hungarian Acad. of Sciences, Debrecen, HUN) ,  TARKANYI F. (Inst. of Nuclear Res. of the Hungarian Acad. of Sciences, Debrecen, HUN) ,  CORNIANI E. (Inst. of Nuclear Res. of the Hungarian Acad. of Sciences, Debrecen, HUN) ,  CORNIANI E. (Austrian Competence Center for Tribology, Wiener Neustadt, AUT) ,  SMITH R. W. (Inst. of Nuclear Res. of the Hungarian Acad. of Sciences, Debrecen, HUN) ,  SMITH R. W. (Austrian Competence Center for Tribology, Wiener Neustadt, AUT) ,  JECH M. (Austrian Competence Center for Tribology, Wiener Neustadt, AUT) ,  WOPELKA T. (Austrian Competence Center for Tribology, Wiener Neustadt, AUT)
資料名： Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry  (Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry)
巻： 292  号： 3  ページ： 1147-1152  発行年： 2012年06月 
JST資料番号： B0949B  ISSN： 0236-5731  CODEN： JRNCDM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では薄膜放射化(TLA)法を用いて放射能写図によるマイクロメートル摩耗の測定が可能であることを実証した。ごく浅い個所を放射化するために衝突エネルギーを断面積曲線の直線域まで下げた。この方法の不利な点は,摩耗曲線が通常の(高エネルギー)TLAの場合のように一定ではなく,表面近くで直線となることである。逆に利点は,少量試料の放射能がずっと低く調べた浅い領域に集中していることである。別法として,浅い角度(15から30°またはすれすれ入射)による照射でそれにより放射化は表面近傍に集中する。いずれの方法も最適の原子核反応を通常使用される工業材料で実証した。Copyright 2012 Akademiai Kiado, Budapest, Hungary Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *放射能 ,  サブミクロン加工 ,  *摩耗 ,  *放射化学分析 ,  *衝突エネルギー ,  すれすれ入射 ,  放射化 ,  表面

分類 (2件)： 放射線応用計測  (MC01040R) ,  放射化学的分析一般  (CC06010J)

タイトルに関連する用語 (5件)： 取り扱い ,  限界 ,  放射能 ,  サブ ,  摩耗