抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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光学計測では,光の回折の影響により,横分解能を保証した三次元計測が困難である。この問題を光より波長の短い電子線を用いることで解決する。本手法では走査型電子顕微鏡(SEM)に光学計測の技術を応用した新たな測定原理を開発する。しかし,SEMでは真空中での操作により測定原理の開発が困難である。そこで,大気圧中で取り扱いが容易なマクロモデルを用いて開発を行う。これをSEMに用いる三次元形状計測技術へと発展させる。そして,空間分解能の向上を目指した微小構造物の三次元形状計測法を確立させることが目的である。(著者抄録)