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J-GLOBAL ID：201202218882076205   整理番号：12A0917266

全反射ラマン分光法と減衰全反射赤外分光法による高分子薄膜の厚み測定

Thickness measurement of thin polymer films by total internal reflection Raman and attenuated total reflection infrared spectroscopy

著者 (4件)： KIVIOJA Antti O. (Aalto Univ., Dep. of Forest Products Technol., P.O. Box 16300, FI-00076 Aalto, FIN) ,  JAEAESKELAEINEN Anna-stiina (Aalto Univ., Dep. of Forest Products Technol., P.O. Box 16300, FI-00076 Aalto, FIN) ,  AHTEE Ville (Centre for Metrology and Accreditation (MIKES), P.O. Box 9, FI-02151 Espoo, FIN) ,  VUORINEN Tapani (Aalto Univ., Dep. of Forest Products Technol., P.O. Box 16300, FI-00076 Aalto, FIN)
資料名： Vibrational Spectroscopy  (Vibrational Spectroscopy)
巻： 61  ページ： 1-9  発行年： 2012年07月 
JST資料番号： W0097A  ISSN： 0924-2031  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (5件)： ラマン分光法 ,  減衰全反射 ,  赤外分光法 ,  高分子薄膜 ,  厚み測定