KOU X. F. について
Device Res. Lab., Dep. of Electrical Engineering, Univ. of California, Los Angeles, California 90095, USA について
JIANG W. J. について
Device Res. Lab., Dep. of Electrical Engineering, Univ. of California, Los Angeles, California 90095, USA について
LANG M. R. について
Device Res. Lab., Dep. of Electrical Engineering, Univ. of California, Los Angeles, California 90095, USA について
XIU F. X. について
Dep. of Electrical and Computer Engineering, Iowa State Univ., Ames, Iowa 50011, USA について
Device Res. Lab., Dep. of Electrical Engineering, Univ. of California, Los Angeles, California 90095, USA について
WANG Y. について
Dep. of Materials Sci. and Engineering, Zhejiang Univ., Hangzhou 310027, CHN について
WANG Y. について
Materials Engineering & Centre for Microscopy and Microanalysis, The Univ. of Queensland, Brisbane, QLD 4072, AUS について
YU X. X. について
Device Res. Lab., Dep. of Electrical Engineering, Univ. of California, Los Angeles, California 90095, USA について
FEDOROV A. V. について
Advanced Light Source Div., Lawrence Berkeley National Lab., Berkeley, California 94720, USA について
ZHANG P. について
Advanced Light Source Div., Lawrence Berkeley National Lab., Berkeley, California 94720, USA について
WANG K. L. について
Device Res. Lab., Dep. of Electrical Engineering, Univ. of California, Los Angeles, California 90095, USA について
Journal of Applied Physics について
絶縁材料 について
半導体 について
ドーピング について
磁性体 について
ビスマス化合物 について
クロム について
薄膜 について
表面準位 について
バンドギャップ について
強磁性 について
磁気秩序 について
Curie-Weiss則 について
磁気電気効果 について
量子効果 について
異常Hall効果 について
対称性 について
RHEED について
振動 について
角度分解分光法 について
光電子分光法 について
曲線 について
輸送現象 について
濃度依存性 について
キャリア密度 について
移動度 について
不活性化 について
セレン化物 について
化合物半導体 について
絶縁体 について
トポロジカル絶縁体 について
ARPES について
RHEED振動 について
強磁性秩序 について
時間反転対称性 について
磁化曲線 について
磁気輸送 について
表面状態 について
セレン化ビスマス について
半導体と絶縁体の電気伝導一般 について
磁気 について
ドープ について
トポロジカル絶縁体 について