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J-GLOBAL ID:201202220334729645   整理番号:12A0022950

ベイズ統計を用いた回帰係数分布の更新による損傷同定モデルの高精度化

Improvement of the Damage Identification Modeling by Implementation of the Update of the Regression Coefficient Distribution Using Bayesian Statistics
著者 (2件):
資料名:
巻: 77  号: 783  ページ: 1934-1944 (WEB ONLY)  発行年: 2011年 
JST資料番号: U0182A  ISSN: 1884-8338  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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本研究では,回帰係数を固定のパラメータではなく,MCMC法により分布として推定することで,損傷パラメータの発生率の分布を導出する。回帰係数を分布として導出することで,推定結果の確率的評価を可能とするだけではなく,階層化することで他の個体の事前分布として用い,小サンプルで高精度の推定モデルを構築する事が可能だと考えられる。そこで,FEM解析データにより得られた学習データにより,事前分布を作成し,評価対象の個体より得られた学習データを用いた事後分布のベイズ推定から,小サンプルでの損傷診断の高精度化を行う。本稿では,電気ポテンシャル法による層間はく離問題への適用から本手法の有効性の検討を行った。(著者抄録)
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分類 (3件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
信頼性  ,  非破壊試験  ,  統計学 

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