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J-GLOBAL ID：201202221398429013   整理番号：12A0205575

界面力顕微鏡による粒子間力の測定

Measurement of inter-particle forces by an interfacial force microscope

著者 (6件)： Qing Huang (Particle Technol. Res. Centre, Dep. of Chemical and Biochemical Engineering, The Univ. of Western Ontario, Canada ...) ,  Asghar Mesbah-Nejad (Dep. of Electrical and Computer Engineering, The Univ. of Western Ontario, Canada, Ontario) ,  Seyed M. Tadayyon (Dep. of Chemistry, The Univ. of Western Ontario, Canada, Ontario) ,  Peter Norton (Dep. of Chemistry, The Univ. of Western Ontario, Canada, Ontario) ,  Zhang Hui (Particle Technol. Res. Centre, Dep. of Chemical and Biochemical Engineering, The Univ. of Western Ontario, Canada ...) ,  Jesse Zhu (Particle Technol. Res. Centre, Dep. of Chemical and Biochemical Engineering, The Univ. of Western Ontario, Canada ...)
資料名： Particuology  (Particuology)
巻： 8  号： 5  ページ： 400-406  発行年： 2010年 
JST資料番号： C5030A  ISSN： 1674-2001  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 直径が8~20μmの範囲の2つの個別のガラスビーズの間の粒子間力を測定するのに界面力顕微鏡(IFM)を使用した。IFMのフィードバック機能をオフにして,引力を得た。力は0.1-0.34μNの範囲で変化し,そして,それらの確実性は同じガラスビーズの間のvan der Waals力の理論解析により確認した。フィードバック機能をつけた状態では,プローブを試料基板に近づけたとき,IFMによって粒子間の引力は全く検出しなかった。これは,非常に短い分離距離,そして/または,IFMの比較的乏しいノイズ対シグナル比の中で,引力の劇的変化によると考えられる。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： 界面 ,  *顕微鏡 ,  *力 ,  ガラスビーズ ,  van der Waals力 ,  信号 ,  雑音
準シソーラス用語： *粒子間力 ,  シグナル ,  ノイズ

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (3件)： 界面 ,  力顕微鏡 ,  粒子間力