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J-GLOBAL ID：201202223240493000   整理番号：12A1485861

低故障率での製品信頼性:間違った期待と実際の限界

Product reliability at low failure rates: Wrong expectations and real limitations

著者 (1件)： KANERT Werner (Infineon Technol., Neubiberg, DEU)
資料名： Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium  (Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻： 2012 Vol.2  ページ： 481-485  発行年： 2012年 
JST資料番号： A0631A  ISSN： 1541-7026  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 自動車産業は,過酷な応用条件のもとでの高信頼性要件に対する有望な例となる。信頼性評価は顧客の期待,そして技術的及び経済的理由によって制限されている信頼性試験によって引き裂かれている。また,パッケージと製品レベルに関する信頼性の方法論は,ウェハ技術側で馴れていることよりもずっと遅れている。本論文は,低故障率の評価が必要な場合での問題点について調べた。

シソーラス用語： *信頼性 ,  故障率 ,  電装品 ,  MOS構造 ,  MOSFET ,  分布関数 ,  負荷試験 ,  評価 ,  加速試験 ,  絶縁破壊
準シソーラス用語： DMOS構造 ,  TDDB ,  ストレス試験 ,  信頼性評価 ,  累積分布関数

分類 (1件)： 信頼性  (KB04040H)

タイトルに関連する用語 (3件)： 故障率 ,  期待 ,  限界